(دار جامعة الملك سعود للنشر, 01/07/1998) عبدالله عبدالرحمن البسام
لقد جهز غشاء رقيق لخليط من CuIn1-xGaxSe2 عديد التبلور. وتم قياس بعض الخواص الفيزيائية مثل ثوالت الشبكية، التركيب البلّوري وبيانات الأشعة السينية باستخدام حيود الأشعة السينية. وضح تحليل حيود الأشعة السينية أن الأغشية الرقيقة التي لها التركيز (x0.5) يكون التركيب Chalcopyrite بينما الأغشية الرقيقة التركيز (x0.5) يكون التركيز في مدى من 0= x إلى 1.0= x. التغير في ثوابت الشبكية مع التركيز تحقق قانون أفوجادرو. كما أن التغير للنسبة c/a مع التركيز يكون خطيا. المدى الواسع لهذه النوعية من الأغشية الرقيقة الممتصة من CIS إلى CGS قدرت بواسطة القياسات الضوئية.
